应用研究与开发
超高分辨场发射扫描电子显微镜 |
|
品牌型号 |
Zeiss Merlin Compact |
性能参数 |
二次电子像分辨率0.8nm@15kV 放大倍率12X-200WX 加速电压0.02-30kV |
检测项目 |
1)材料表面形貌、尺寸 2)材料微区化学元素组成和分布(B-U,元素含量>1%) |
样品要求 |
1)块状或粉末样品 2)样品尺寸厚度<3cm,直径Φ<5cm 3)不导电样品需进行镀膜 4)不含水分、挥发性油脂和大量浮尘 |
收费标准 |
400元/小时 能谱分析加收50元/样 镀膜加收100元/样品盘 |
俄歇电子能谱仪
型号
ULVAC-PHI
710
性能参数
二次电子场分辨率<3nm@25kV
俄歇空间分辨率<8nm@1nA,20kV
俄歇探测灵敏度>700kcps@10nA,10kV
检测项目
1)表面纳米级深度的元素组成(Li-U)、成分含量及微观形貌观察(纳米级空间分辨率)
2)材料纵向深度组成与多层结构分析
样品要求
1)干燥的导电固体样品
2)样品尺寸:厚度<10mm,长宽<20mm
收费标准
150元/样品(全谱+5个元素窄谱)
深度分析700元/小时
X射线光电子能谱仪
型号
ULVAC-PHI QuanteraⅡ
性能参数
束斑在10um
X射线功率小于1.3W时,灵敏度≥20kcps,分辨率≤0.6eV@Ag3d
探测灵敏度:原子百分比0.01%-0.1%
检测项目
1)样品表面元素定性、半定量分析(Li-U)
2)配备离子枪可进行材料纵向深度组成与多层结构分析(层厚分辨率2-3nm)
样品要求
1)块状或粉末样品;
2)样品尺寸:厚度<8mm,长宽<60mm;
3)样品具有可测试平面>5mm×5mm;
收费标准
150元/样品(全谱+5个元素窄谱)
深度分析500元/小时
X射线衍射仪
型号
BRUKER D8 ADVAVCE A25
性能参数
可读最小步长0.0001°
角度重现性0.0001°
2θ转动范围:0-150°
检测项目
多晶样品物相定性和半定量分析(角度范围10°-150°)
样品要求
1)片状或粉末样品;
2)样品尺寸:厚度<8mm,直径<35mm;
3)需有可测试平面,面积不小于10mm×10mm;
4)粉末样品大约1-2g
收费标准
80元/样品
X射线荧光光谱仪
型号
Panalytical AxiosmAx
性能参数
角度再现精度0.0001°
闪烁探测器最大计数1500kcps
流气探测器最大计数3000kcps
检测项目
可进行F-U元素定性、半定量分析
样品要求
直径45-48mm,厚度0.5-10mm固体样品
收费标准
120元/样品
拉曼光谱仪
型号
HORIBA LabRAM HR Evolution
性能参数
光谱重复性≤±0.03cm-1
灵敏度:硅三阶峰信噪比优于22:1
检测项目
未知物质官能团的判定
样品要求
1)固体或液体样品(金属单质除外)
2)样品尺寸高度<2cm,长宽<10cm×10cm
收费标准
100元/样品